Le GUMP à PARIS
Du 16 au 18 Novembre 2022
Message des organisateurs :
"Le FIB/SEM et la préparation TEM Ce thème recouvre les applications FIB/SEM en 3D ce qu’on appelle la tomo FiB. Les lamelles TEM dont l’objectif est de produire des lames (pour les matériaux) des lamelles (pour les biologistes) en FIB/SEM en vue de faire de la haute résolution dans un TEM. Les méthodes de préparations sont différentes suivant qu’on s’adresse à la science des matériaux ou des biologistes, ce qui est intéressant à discuter et je suis certaine que, comme lors de nos réunions précédentes, nous trouverons des méthodes à adapter issues des deux mondes. Le FIB/SEM est très peu discuté et nous avons eu très peu de GUMP présentant et analysant cet instrument et ses applications. Il était aussi principalement réservé aux sciences des matériaux. L’intérêt porté par les biologistes à cet instrument est très récent. Les articles scientifiques concernent pour la plupart l’analyse en TEM de haute résolution (en général sur le Titan Krios) de lamelles cryo préparées en cryo FIB/SEM ainsi que des travaux concernant le « slice and view » ou tomographie FIB. Dans ce cas, à température ambiante ou à la température de l’azote liquide, des échantillons sont directement imagés puis sectionnés. Cette technique est destructive pour l’échantillon. Pour découvrir tous ces aspects, nous vous invitons à participer au prochain GUMP qui sera accueilli à Jussieu du 16 au 18 novembre 2022 et à présenter vos travaux dans l’esprit du GUMP. Les orateurs, travaillant principalement sur un instrument TF et ceux qui utilisent des instruments autres sont attendus. En effet, il sera enrichissant de les comparer puisque pour finir la plupart des analyses se terminent sur le Titan ! Afin de permettre à un maximum d’étudiants de venir nous proposons « Une question-Une dia » ou une dia-poster, l’essentiel étant la réflexion sur un sujet, une manip, un thème et non un exposé académique. Le GUMP est une assemblée où les échanges sont prioritaires. La soirée de gala du jeudi 17 novembre aura lieu au restaurant le « Ciel de Paris » au sommet de la tour Montparnasse pour poursuivre les échanges."
Les adresses :
salle de conférence de l’IMPMC,
l’Institut de Minéralogie, Physique des Matériaux et Cosmochimie,
Tour 22,23, 4ème étage, Salle 1, IMPMC,
Université Pierre et Marie Curie – Jussieu - Paris 75 005
Le dîner de gala :
CIEL DE PARIS
Tour Maine Montparnasse, 56ème étage Tour Maine Montparnasse, Av. du Maine, 75015 Paris
Horaires et programme
Mercredi 16 novembre 13 : 00 – 14 : 00 : Café d’accueil et enregistrement des participants 14 : 00 – 14 : 15 : Mots d’introduction, Danièle SPEHNER (Vice-présidente du GUMP) et Imène ESTEVE qui nous accueille dans son laboratoire 14 : 15 – 15 : 00 : Marco CANTONI (EPFL, Lausanne) : Introduction générale : le FIB-SEM 15 : 00 – 16 : 00 : Emmanuel BOUZY (Univ. Metz) et Romain Badyka (EDF Moret) : Principes SEM et FIB 16 : 00 – 16 : 30 : Pause – discussion 16 : 30 – 17 : 00 : Jean-Luc ROUVIERE & Bérangère MOREAU (CEA, Grenoble) : Préparation d’échantillons par FMC (FIB micro cleavage) 17 : 00 – 17 : 30 : Moara LEMOS (Pasteur, Paris) : 3D architecture of flagellum in trypanosomes during development in the tsetse fly 17 : 30 – 18 : 00 : Sylvie MIGOT (Université de Nancy) : Apport du MEB FIB à la préparation des lames minces en science des matériaux 18 : 00 – 18 :30 : Marie-Pierre CHAUVAT (CIMAP, Caen) : Semiconducteurs nitrures III-V : intérêt et préparations de sections planes par FIB. 18 : 30 – 18 :45 : Responsables des activités chez Thermo Fisher (organigramme) Jeudi 17 novembre 09 : 00 – 9 : 15 : Accueil 09 : 15 – 09 : 45 : Alex RIGORT (Thermo Fisher) : Latest developments in cryo-dual beam sample preparation for tomography 09 : 45 – 10 : 15 : Victor HANSS (IGBMC, Illkirch) : Nano-usinage de lamelles en condition cryogène de cellules marquées à l'or pour la tomographie électronique 10 : 15 – 10 : 45 : Pause – discussion 10 : 45 – 11 : 15 : Dris IlHIAWAKRIM (IPCMS, Cronenbourg) : Description morphologique de la porosité multi échelles par différents matériaux : problème de préparation et d’acquisition et comment y remédier 11 : 15 – 11 : 45 : Laurent LEGRAS (GATAN) : Apport du polissage ionique par faisceau non focalisé d’argon pour la préparation de lames minces post FIB 12 : 00 – 13 : 00 : Pause déjeuner à la Brasserie l’Ardoise, sur le site de Jussieu 13 : 00 – 13 : 30 : Cédric MESSAOUDI (Curry, Orsay) : utilisation des approches de inpainting dans l’amélioration des images FIB-SEM 13 : 30 – 14 : 00 : Philippe BUFFAT (EPFL, Lausanne): According to the Velox user manual delivered with Talos EDS Super-X1 14 : 00 – 14 : 30 : Robin SCHAUBLIN (EPFL, Zürich) : Ultrastructure sur les lames FIB… 14 : 30 – 15 : 00 : Claudie JOSSE (Centre de Micro-caractérisation R. CASTAING, Toulouse) : Le FIB en science des matériaux : un outil polyvalent 15 : 00 – 15 : 30 : Pause – discussion 15 : 30 – 16 : 30 : Assemblée Générale 16 : 30 – 17 : 00 : Jean DARASPE (UNIL, Lausanne) : Préparation pour Slice & View sur Helios Nanolab 650 17 : 00 – 17 :30 : Philippe LASSON (SYNERGIE4) : « l’analyse quantitative au MET et correction d’épaisseur par la méthode de ZETA appliquée au lames minces préparées au FIB » 18 : 00 : départ pour le CIEL DE PARIS – SOIREE DE GALA 19 : 00 - 21 : 00 : Restaurant le ciel de Paris à la tour Montparnasse (33 AV. DU MAINE- Tél. : 01.40.64.77.67) 21 : 00 – 23 : 00 : Soirée Dansante Vendredi 18 novembre 08 : 15 – 08 :30 : accueil 08 : 30 - 09 : 00 : Titre à venir 09 : 00 – 09 : 30 : Martiane CABIE (CP2M, Aix-Marseille Univ) : Elongation et rupture de nanoparticules d’oxyde lors de l’étirage d’une fibre optique : caractérisation 3D par tomographie FIB/SEM. 09 : 30 – 10 : 00 : Eva HERIPRE (Centrale Supelec, Saclay) : le MEB-FIB, un outil pour l’usinage de micro-échantillons 10 : 00 – 10 : 20 : Pause – discussion 10 : 20 – 10 : 50 : Stéphane AGUY (DELMIC) : Les derniers outils développés par la Sté DELMIC pour l’aide à la préparation d’échantillons biologiques pour les lames FIB Cryo. 10 : 50 – 11 : 20 : Constantin MATEI (Leti CEA Grenoble) : FIB3D : applications et défis dans le domaine de la microélectronique 11 : 20 – 11 : 50 : Clara PANAIT (EDF Chinon) : Préparation d’échantillons au FIB pour le MET : méthodologie et application sur matériaux fortement irradiés (issus de centrale nucléaire) 12 : 00 – le mot de la fin